Process MasterRuntime膜厚反演总览Version: NextOn this page膜厚反演总览“膜厚反演”是通过测量的光谱曲线,利用数学最优化算法(涵盖局部如 LM 与全局如 DE 等混合引擎)反向推算各层材料实际物理厚度的过程。它是实现“从结果找原因”的核心分析手段。 介绍 反演模块通过 ReverseUnitController 管理,将实测光谱与理论模型进行比对。 核心参数设置 光谱来源:指定从哪个光谱容器读取测量数据。 反演范围