反演膜厚
介紹
此功能用於反演膜厚，根據測得的光譜資料推算各膜層的厚度。
設定
系統可包含多個反演單元，每個單元可設不同的參數。
導航至：工藝大師 -> 右側彈出選單 -> 膜厚 -> 反演 開啟反演設定。
新增反演單元
點選右上角的 新增 按鈕新增反演單元。若需複製現有單元，可在新增前點選該單元上的 複製。
詳見下方反演參數設定。
反演參數
點選每個單元右側的 設定 鈕可開啟參數設定。
- 單元名稱 — 指定單元名稱以便辨識。
- 光譜容器 — 選擇提供反演光譜的容器。
- 膜厚容器 — 選擇一個或多個容器，反演後結果會填入這些容器。
- 測量位置 — 僅會對已選位置執行反演。
- 通用/個別設定 — 選擇是否對各測點使用相同參數或分別設定。
參數細節：
- 波長與容差：設定光譜目標的波長與容差。
- 演算法：目前支援 Filmstar 演算法。
- 停止條件：設定反演停止條件（優化函數閾值、最大次數、或連續下降條件）。
反演單元面板
點選主介面右側操作欄從上往下第五個按鈕（膜厚反演）可開啟面板。
若看不到單元，請檢查反演單元的鎖定與顯示狀態。
操作流程
載入模組設定
Filmstar 初始化
載入鍍膜線執行設定
鍍膜線執行設定定義了鍍膜線與膜系。
匯入光譜
將需反演的光譜匯入設定的光譜容器（參見匯入光譜）。
確認反演參數
執行反演
點選 反演 開始。面板會顯示進度：
若選擇多個位置，反演時間可能較長，請耐心等待。
結果
檢視反演記錄
反演記錄含每個位置的耗時與優化函數值。
檢視反演膜厚
檢視每個測點每 層的反演膜厚：
啟用比較模式以檢視每層每位置與標準膜厚的差異、調整值與百分比。
